Blick ins Buch
Testmustergenerierung mit hoher Fehlerüberdeckung für CMOS-Schaltungen
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Über das Buch
ISBN9783884571743
VerlagGMD-Forschungszentrum Informationstechnik
Erscheinungsdatum31.12.89
Seitenzahl282
FormatTaschenbuch
SpracheDeutsch
Preis31.90 €
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