Blick ins Buch

Partitionierung und Analyse statischer, digitaler CMOS-Schaltungen auf der Schalterebene zur Vorbereitung einer Mixed-Level Testgenerierung

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Über das Buch

ISBN9783486229264
VerlagOldenbourg Wissenschaftsverlag
Erscheinungsdatum31.12.94
Seitenzahl168

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