Blick ins Buch
Surface energy and strain relaxation in heteroepitaxial growth - an analysis of solution grown GeSi
Nicht lieferbarKostenloser Versand
Über das Buch
ISBN9783932392009
VerlagUniversität Erlangen-Nürnberg Lehrstuhl f. Mikrocharakterisierung
Erscheinungsdatum31.12.96
Seitenzahl145
FormatTaschenbuch
SpracheEnglisch
Preis25.20 €
Lesen ist schöner mit der READO App.
Bücher entdecken, tracken, gemeinsam lesen.




Bibliothek
Behalte den Überblick
