Blick ins Buch

Nanohärtemessung mit dem Rasterkraftmikroskop

Markus KempfAutor

Softcover29,90 €

Nicht lieferbarKostenloser Versand

Durch das Verwenden dieser Links unterstützt du READO. Wir erhalten eine Vermittlungsprovision, ohne dass dir zusätzliche Kosten entstehen.

Über das Buch

ISBN9783899590074

VerlagDer Andere Verlag

Erscheinungsdatum01.11.02

Seitenzahl172

Mehr

ISBN9783899590074

VerlagDer Andere Verlag

Erscheinungsdatum01.11.02

Seitenzahl172

Mehr

Lesen ist schöner mit der READO App.

Bücher entdecken, tracken, gemeinsam lesen.

Bibliothek

Behalte den Überblick